HAST高壓蒸煮檢測(cè)

HAST(Highly Accelerated Stress Test)高壓蒸煮是一項(xiàng)測(cè)試微電子器件的可靠性的方法之一，通過(guò)模擬極端工作環(huán)境下的水分、溫度、氣壓等因素，對(duì)器件的耐受程度進(jìn)行評(píng)估，從而提高產(chǎn)品的可靠性。

測(cè)試項(xiàng)目

HAST測(cè)試主要關(guān)注器件的結(jié)構(gòu)、材料、制作工藝和生產(chǎn)流程方面，其測(cè)試項(xiàng)目包括：

密封性測(cè)試；    濕熱環(huán)境下電絕緣強(qiáng)度以及擊穿電壓試驗(yàn)；    鹽霧腐蝕測(cè)試；    表面紋理變化觀察等。 測(cè)試條件

HAST測(cè)試的環(huán)境條件主要包括：溫度140℃、相對(duì)濕度95%、氣壓3.5atm，測(cè)試時(shí)長(zhǎng)24-96小時(shí)（視不同測(cè)試項(xiàng)目而定）。

國(guó)內(nèi)外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際上對(duì)于HAST測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)主要有JEDEC JESD22-A110和MIL-STD-750C，國(guó)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)主要有GB/T2423.12-2013和GJB657A-2009等。

樣品要求

測(cè)試樣品一般為器件的部分組件或完整板卡，需符合相關(guān)的生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。測(cè)試樣品需采用差異性較大的相關(guān)材質(zhì)進(jìn)行對(duì)比測(cè)試。

測(cè)試流程

測(cè)試流程如下：

設(shè)定測(cè)試溫度、相對(duì)濕度、測(cè)試時(shí)間；    將測(cè)試樣品放入高壓蒸煮測(cè)試設(shè)備內(nèi)，并進(jìn)行密封；    測(cè)試結(jié)束后，取出測(cè)試樣品，進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試指標(biāo)的測(cè)量和檢驗(yàn)；    *終生成測(cè)試報(bào)告。 測(cè)試報(bào)告

測(cè)試報(bào)告將列明每個(gè)測(cè)試項(xiàng)目所使用的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法，測(cè)試結(jié)果以及如果發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，則會(huì)詳細(xì)解釋所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題，并給出相應(yīng)的建議。

如何申請(qǐng)測(cè)試

針對(duì)需要進(jìn)行HAST測(cè)試的客戶(hù)，需要在專(zhuān)業(yè)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)（如、UL等）進(jìn)行申請(qǐng)。在申請(qǐng)測(cè)試前，客戶(hù)需要向檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供樣品信息及相關(guān)資料，以方便檢測(cè)機(jī)構(gòu)預(yù)估測(cè)試費(fèi)用并計(jì)劃測(cè)試流程。

HAST測(cè)試可以幫助客戶(hù)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中提前發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并加以解決，在保證產(chǎn)品質(zhì)量的也節(jié)約了客戶(hù)的時(shí)間和成本。