檢測項目溫度濕度偏置循環(huán)壽命測試、穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗、高加速蒸煮試驗、高溫存儲壽命試驗、溫度循環(huán)試驗、加電溫度循環(huán)試驗、溫度沖擊試驗、鹽霧試驗、溫度偏置工作壽命試驗、高加速壽命試驗、高加速無偏置壽命試驗、振動和掃頻試驗、可靠性試驗、老化試驗、半導體封裝測試、浸漬試驗、低氣壓試驗、溫度沖擊試驗、沙塵試驗，外部火焰試驗、低頻振動試驗、隨機跌落實驗、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗、高頻振動試驗，隨機振動試驗，耐溶劑試驗，顆粒碰撞噪聲試驗，介質耐壓測試，絕緣電阻測試，直流電阻測試，電容量測試，品質因數(shù)測試，接觸電阻測試，旋轉壽命試驗，固定電阻器電流噪聲測試，強碰撞沖擊，可焊性，X射線照射，引出端強度，加速度試驗，電阻電壓系數(shù)測試等。相關檢測標準GJB360B 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗

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GJB1217A 電連接器試驗方法等。