HN1000B 斷路器剩余電流保護(hù)器動(dòng)作特性測(cè)試儀（分A型AC型B型F型） B型剩余電流斷路器測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱測(cè)試儀）是為剩余電流斷路器的性能測(cè)試而研制，它是檢測(cè)B型剩余電流斷路器脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間的關(guān)鍵儀器。
測(cè)試儀適用于電子式和電磁式的剩余電流斷路器。
1P+N、2P、、+N、4P的斷路器均能測(cè)試，輸出大剩余電流為2A。
系統(tǒng)顯示和操作采用流行的工業(yè)級(jí)觸摸屏，操作簡(jiǎn)單； 接地方式：可靠接地   測(cè)試儀輸出的電流值為真有效值，測(cè)試不確定度小于1%； （2）50Hz交流剩余電流范圍：0~2A； 選項(xiàng)角為0°的脈動(dòng)直流剩余電流，電流的范圍為0~800mA； 選項(xiàng)角為135°的直流剩余電流，電流的范圍為0~200mA； （5）疊加平滑直流的范圍為5~100mA；  50Hz工頻電磁場(chǎng)干擾是硬件開(kāi)發(fā)中難以避免的問(wèn)題，特別是敏感測(cè)量電路中，工頻電磁場(chǎng)會(huì)使測(cè)量信號(hào)淹沒(méi)在工頻波形里，嚴(yán)重影響測(cè)量穩(wěn)定度，故消除工頻電磁場(chǎng)干擾是敏感測(cè)量電路設(shè)計(jì)中不可逃避的挑戰(zhàn)。
PT100是當(dāng)前應(yīng)用為廣泛的測(cè)溫方案，各位工程師在應(yīng)用此方案時(shí)是否會(huì)遇到這樣的問(wèn)題：為什么PT100測(cè)溫電路會(huì)存在周期性小波動(dòng)？該如何解決？其實(shí)出現(xiàn)這樣的現(xiàn)象主要可能是存在如下幾個(gè)原因：-50Hz工頻電磁場(chǎng)的影響；-周?chē)姍C(jī)或者繼電器等開(kāi)關(guān)動(dòng)作造成的群脈沖干擾；-傳導(dǎo)進(jìn)去系統(tǒng)的工頻共模干擾。
儀器上讀到的電壓值與導(dǎo)線中的電流值通過(guò)傳輸阻抗換算。
傳輸阻抗定義為：儀器輸入阻抗上感應(yīng)的電壓與導(dǎo)線中的電流之比。
對(duì)于一個(gè)具體的，可以從廠家提供的說(shuō)明書(shū)中查到它的轉(zhuǎn)移阻抗ZT。
導(dǎo)線中的電流等于：I=V/ZT如果公式中的所有物理量都用dB表示，則直接相減。
對(duì)于機(jī)箱的泄漏，要用近場(chǎng)進(jìn)行探測(cè)。
近場(chǎng)可以看成是很小的環(huán)形天線。
由于它很小，靈敏度很低，僅能對(duì)近場(chǎng)的輻射源進(jìn)行探測(cè)。
這樣有利于對(duì)輻射源進(jìn)行。
iPhone11一經(jīng)發(fā)布，“浴霸”攝像頭就被很多人吐槽，相較于外形，相信大家更關(guān)心的是它的內(nèi)在。
比如它的GPU，手機(jī)過(guò)燙的經(jīng)歷，相信大家都有過(guò)吧，GPU就是手機(jī)溫度的“操控者”。
通過(guò)菲力爾紅外熱成像儀對(duì)比iPhone11ProMax和iPhoneXSMax，我們可以發(fā)現(xiàn)，新處理器的發(fā)熱量比過(guò)去要降低了，用熱成像儀觀看兩者后背，主要發(fā)熱區(qū)域都在攝像頭斜下方，但新iPhone發(fā)熱量明顯要小于上代產(chǎn)品，溫度差了3度。